Potenzial-induzierte Degradation - Prüfung - Ursachenanalyse - CharakterisierungEine Veröffentlichung des Fraunhofer CSP im Fachjournal physica status solidi a mit dem Titel Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side schaffte es 2018-2019 unter die am meisten heruntergeladenen Paper des Journals.
Der Artikel berichtet von einem neuartigen PID-Effekt bei bifazialen PERC-Solarzellen: Dieser schädigt betroffene Zellen durch eine Korrosion des Siliziums unterhalb der passivierenden Schichten. Entdeckt wurde der Effekt von Kai Sporleder, der im Rahmen seiner Promotion am Fraunhofer CSP die Anfälligkeit bifazialer PERC-Solarzellen für potentialinduzierte Degradation (PID) untersucht.
Da die als PERC+ bezeichneten Solarzellen mit passiviertem Emitter und passivierter Rückseite auch eine Lichtaufnahme durch die Rückseite der Solarzelle erlauben, sind sie aktuell der am häufigsten genutzte Zelltyp bifazialer Zelltechnologien.