Potenzial-induzierte Degradation - Prüfung - Ursachenanalyse - Charakterisierung
Potenzial-induzierte Degradation - Prüfung - Ursachenanalyse - Charakterisierung

PID-Testgeräte

PIDcon

Prüfgerät PIDcon
© Fraunhofer CSP
Mit dem Prüfgerät PIDcon lässt sich die Potenzial-induzierte Degradation (PID) schon auf Solarzellenebene nachweisen.
  • geeignet für PID-Tests von Solarzellen oder Verkapselungsmaterialien (Polymere, Glas)
  • schnelle Testgeschwindigkeit ohne Herstellung von Testmodulen
  • Zellen können nach dem PID-Test ohne Bruch untersucht werden
  • Prüftemperatur frei einstellbar
  • Sicherheitskammer mit Verriegelungsschaltern
  • für Zellen und Materialien bis zu 8"Kantenlänge

PIDcheck

Schwarz Kasten
© Freiberg Instruments
Mit PIDcheck lassen sich bereits installierte PV-Module auf Anfälligkeit für PID testen.
© Freiberg Instruments
Beim Test der Module kommt eine Heizmatte mit integrierter Metallgaze zum Einsatz.
  • schnelle PID-Prüfung montierter PV-Module in bestehenden PV-Systemen
  • geeignet für mobile Outdoormessungen
  • Vorhersagen zu langfristigen Erträgen von Photovoltaikanlagen
  • Nachweis der Regeneration PID-geschädigter Zellen

Publikationen

  • V. Naumann, D. Lausch, N. Schüler, C. Hagendorf, Outdoor PID testing of modules in PV systems, 26th International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-26), Singapur, 2016.
  • V. Naumann, N. Schüler, C. Hagendorf, Rapid PID testing and assessment of PID stability at installed PV modules, 11th SNEC International Photovoltaic Power Generation Conference & Exhibition 2018, Shanghai (China), 2018.
  • V. Naumann, N. Schüler, C. Hagendorf, On-site PID testing, PV-TECH Power Vol. 15, June 2018, pp. 88-91, https://www.pv-tech.org/technical-papers/on-site-pid-testing

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